面议

测角仪部分 2.1测角仪：θ/θ立式测角仪，样品水平放置 2.2 2转动范围：-110~168 2.3 测角仪半径：可连续改变 *2.4 可读最小步长：0.0001，角度重现性：0.0001 *2.5 最高定位速度：≥1200/min 2.6 采用智能虚拟测角仪全自动控制，硬件自动识别、自动纠错 Chi园：-11～98，马达驱动，最小步长0.001o *5.2 Phi园：360度，马达驱动，最小步长0.001o *5.3 X、Y、Z轴平移，马达驱动，最小步长0.001mm *5.4 带阻光刀技术，可完成小样品的反射率XRR测量 *5.5 样品放置方式：真空吸附

高分辨X射线衍射仪除了可用于薄膜材料的晶体结构表征，还可以通过倒易空间图和摇摆曲线等参数的精确测量，对晶格常数、晶格失配度、应变状态等做精确的定量分析。高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰的测量峰位与标准峰位的误差不超过0.01度，而且先进的阵列探测器可以大幅地提高探测灵敏度。

可用于薄膜材料的晶体结构表征，还可以通过倒易空间图和摇摆曲线等参数的精确测量，对晶格常数、晶格失配度、应变状态等做精确的定量分析。