200/小时

1. 最高空间分辨率 ≤ 3μm； 2. 像素细节分辨率 ≤ 1μm； 3. 开管电压225kV； 4. 成像面积≥400mm×400mm； 5. 可检测样品尺寸≥Ø180×400mm； 6. 像素矩阵：≥3072×3072； 7. 可以对金属、复合材料和陶瓷试件进行探测3μm成像。

X射线计算机断层扫描机在正常大气环境下对样品直接进行测试和观察，实现对样品微观结构的数字化表征、形态学表征和定量分析，系统具有良好操作性和可维性，可应用于陶瓷、机加工件、复合材料等样品的孔隙、夹杂、裂纹、尺寸等信息检测，在不破坏样品的情况下， 实时观测样品的内部状态，能够提高本学校科研水平。

可应用于陶瓷、机加工件、复合材料等样品的孔隙、夹杂、裂纹、尺寸等信息检测，在不破坏样品的情况下， 实时观测样品的内部状态。