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<p> <span style="font-size: 12pt; font-family: 微软雅黑, sans-serif;">该设备由美国<span lang="EN-US">Xradia</span>公司购入,可在不破坏样品的条件下,实现样品亚表面或者内部微观结构的三维表征,空间分辨率最高可达<span lang="EN-US">1</span>微米。与其他厂商的设备不同,该设备配置有二级放大系统,既包括几何放大,又包括光学放大,可对大样品实现高分辨无损三维成像。除了常规的三维成像外,还可对各类样品进行不同环境如温度、载荷、电场和腐蚀等条件下的原位三维成像工作。广泛适用于材料科学、生物科学、地质矿物、半导体器件、小型精密器件等等。</span></p></p>