1000元/h

分辨率：TEM点分辨率≤0.25nm，信息分辨率≤0.12 nm，STEM分辨率≤0.16 nm， SuperX能量分辨率：≤136eV 加速电压：200 kV 样品台运动总行程：X,Y±1mm,Z±0.375 mm， 双倾杆最大倾斜角度：±30°

Talos F200X G2是一款扫描透射电子显微镜，其将出色的高分辨率 STEM 和 TEM 成像与业界领先的能量色散 X 射线光谱 (EDS) 信号检测相结合。在所有维度下均可实现极快速精准的 EDS 分析，以及在进行动态显微镜检查时实现导航快速的高分辨率 TEM 和 STEM（HRTEM 和 HRSTEM）成像。Talos F200X还具有较低的环境敏感度；仪器外壳可调节 TEM 室中空气压力波、气流和细微温度变化的影响。

样品测试