形貌300元/样；HRTEM 400元/样 Mapping：1个位置400元, 2个位置700元 具体咨询

加速电压：200KV 电子枪：肖特基热场发射 TEM点分辨率：0.25nm TEM信息分辨率：0.12nm STEM分辨率：0.16nm 样品倾斜角度X/Y：±30° 可同时采集4X幅来自不同角度的电子信号，明场(BF)，环形明场(ABF)，环形暗场(ADF)和大角度环形暗场(HAADF)的图像。

在二维和三维微纳米级尺度下对材料进行快速准确的形貌观察、晶体结构分析、定性定量表征和原位动态试验。 Talos F200X将出色的高分辨率STEM和TEM成像与业界领先的能量色散X射线光谱（EDS）信号检测相结合。采用构合映射的2D/3D化学表征由具有独特清洁度的4个柱内SDD Super-X探头执行。Talos F200X扫描透射电子显微镜在所有维度下均可实现极快速精准的EDS分析，以及在进行动态显微镜检查时实现导航快速的高分辨率TEM和STEM（HRTEM和HRSTEM）成像。

常规非磁性样品高分辨透射电镜测试