1500元/时
二次电子像分辨率SE:3.0nm@30kV,8.0nm@3kV,背散射电子像分辨率BSE:4.0nm@30kV,放大倍数:8-800000倍,钨灯丝;能谱工作条件:WD≤10mm,ToA=35°
扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品,通过光束与物质间的相互作用,来激发各种物理信息,对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。新式的扫描电子显微镜的分辨率可以达到1nm;放大倍数可以达到30万倍及以上连续可调;并且景深大,视野大,成像立体效果好。此外,扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合,可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。
开展材料表征条件/药包材相容性研究
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