1000¥/次
测试厚度范围:≤500μm
针对半导体业硅片的几何参数测试
半导体业硅片的几何参数测试,包括厚度,弯曲度,翘曲度等
服务咨询:024-24211361
主办单位:辽宁省科学技术厅
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