面议
测角仪及控制部分:样品水平0-0结构,衍射圆半径225mm;步进、Omg扫描方式,0s、0d臂采用分动控制,衍射仪角度线性度小于 0.02:采用伺服电机,光学编码技术控制测角仪转动,自动消空程、角度校正;角度定位速度:1500/min;测量范围:0s:-3-80*、日d:-3-80°,2日:-6-160:连续扫描速度:0.0012-50*/min:最小步宽角度:0.000120角度重复精度:0.0001:20角线性精度:S士0.02'
XRD可以用于定量分析,包括:样品的平均晶粒尺寸; 样品的相对结晶度;物相含量的定量分析;XRD还可以用于点阵常数的精密计算,残余应力计算等。
物相分析,样品测试,技术咨询
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主办单位:辽宁省科学技术厅
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