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自动消像散：标准配置 自动衬度/自动亮度：标准配置 大焦深模式：标准配置 2. 波谱系统 元素探测范围：5B ~ 92U（标准） 谱仪2θ角范围：XCE型谱仪：25°~ 136°；H型谱仪：36°~ 118.5° X射线出射角：40° * 罗兰圆半径：140mm（XCE、TXE、FCS型谱仪） 100mm（H型） 谱仪控制：异步控制 * 分光晶体的交换：自动交换；晶体可在谱仪扫描区间任何位置交换，交换后无需调整 X射线波谱分析实验条件（主放大器，增益，探测器高压，脉冲高度分析仪等）：根据所测元素及相关的分光晶体，自动设置实验条件 自动全元素定性分析：约40秒 3. 光学显微镜系统 分辨率：1μm; 焦深：±1μm; 放大倍率：×414 彩色CCD相机：标准配置；工作站显示器上，可同时显示二次电子像、背散射电子像和光学显微象 通过光学显微镜控制样品台：可以

利用电子束激发的X射线进行波谱数据分析，可以实现对材料的微区定量成分分析，特点可以对低含量以及轻元素进行准确分析，是地质类公认的矿物定性研究手段，在权威地学杂质上全部要求电子探针定量成分数据，不接受能谱仪数据，是矿物勘探开发，新矿物鉴定最有效的研究手段。

矿物点分析，定性分析，定量分析，面扫分析。